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FETS-2000b 薄膜鐵電性能綜合測(cè)試儀具有動(dòng)態(tài)電滯回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態(tài)電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印跡(IM)的測(cè)試功能.，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。

研禾科技FETS-2000高溫鐵電測(cè)試儀可用于高溫環(huán)境下材料鐵電性能測(cè)試中測(cè)試信號(hào)的輸出和反饋信號(hào)的收集，可進(jìn)行電滯回線測(cè)試、漏電流測(cè)試、疲勞測(cè)試、電擊穿強(qiáng)度測(cè)試、小信號(hào)電容測(cè)試、PUND測(cè)試、印痕測(cè)試、保持力測(cè)試等鐵電性能的檢測(cè)，另外還有壓電測(cè)試、介電測(cè)試、電阻率測(cè)試、電容充放電測(cè)試需配合另外升級(jí)選件實(shí)現(xiàn)。

FETS-2000變溫鐵電測(cè)試系統(tǒng)可用于高低溫環(huán)境下材料鐵電性能測(cè)試中測(cè)試信號(hào)的輸出和反饋信號(hào)的收集，可進(jìn)行電滯回線測(cè)試、漏電流測(cè)試、疲勞測(cè)試、電擊穿強(qiáng)度測(cè)試、小信號(hào)電容測(cè)試、PUND測(cè)試、印痕測(cè)試、保持力測(cè)試等鐵電性能的檢測(cè)，另外還有壓電測(cè)試、介電測(cè)試、電阻率測(cè)試、電容充放電測(cè)試需配合另外升級(jí)選件實(shí)現(xiàn)。